Измерительное оборудование это все средства, а также принадлежности, за счет которых можно измерить различные единицы величины на основе практического метода.
Ренгенодифракционные исследования ВТСП материалов.
Рентгенодифракционные исследования эпитаксиальных пленок и квантовых ям полупроводниковых материалов.
Автоматизированный гидравлический пресс для нагружения камер давления c электрическими тензодачиками
Автоматизированный гидравлический пресс для нагружения камер давления c электрическими тензодачиками усилия.
Сферические камеры диаметром 14 мм, 23 мм, с фиксированным давлением до 2.5 ГПа для транспортных измерений.
Автоматизированные системы для векторных измерений транспорта на переменном и на постоянном токе
Предназначены для испытаний сверхпроводящих устройств диаметром до 0.9м и высотой до 1.2м, сверхпроводящих материалов в полях до 8Т, при токах до 1кА и ВТСП материалов и устройств с ВТСП элементами на переменном токе до 0.5кА
Предназначена для измерений критических параметров ВТСП и СП проводников.
Позволяет проводить измерения в диапазоне температур 0.02-300 К и магнитных полей до 13 Т
Системы являются экономичными (по потреблению 4Не) и служат для экспресс-измерений в небольших магнитных полях
Установка Helios NanoLab 660 находится на этапе ввода в эксплуатацию.
СКВИД-магнитометр для измерений в малых полях предназначен для измерения магнитного момента в диапазоне температур 2 - 350 К и полей 0 - 2500 Oe
Магнитометр предназначен для измерения намагниченности (на постоянном токе) малых образцов в условиях сильных магнитных полей и в широком диапазоне температур.
Криомагнитная система для исследований в магнитных полях до 21 Тесла
В криомагнитной системе 15 Тесла (Intermagnetics 165NS40H) осуществляются измерения проводимости на постоянном и переменном токе
Автоматизированный комплекс PPMS-9
Фурье-спектрометр высокого разрешения IFS 125 HR производства фирмы Bruker Optic GmbH http://www.bruker.ru
Диапазон измерений ±5emu
Модель JSM-7001F (JEOL ) представляет собой автоэмиссионный растровый электронный микроскоп.
Установка для измерения параметров элементов наномеханики, наноэлектроники и квантовой логики при сверхнизких температурах
Сканирующий туннельный микроскоп Solver-Pro NT-MDT предназначен для комплексных исследований различных объектов с высоким разрешением на воздухе, в жидкостях и контролируемой газовой атмосфере, при температуре до 150 С.
Рентгеновский дифрактометр Panalytical X ’ PERT PRO MRD Extended предназначен для исследования тонких структурных особенностей монокристаллов и гетероэпитаксиальных пленок толщиной от нескольких нанометров до нескольких микрон.
Назначение: измерение транспортных, магнитных и тепловых свойств материалов и наноструктур в диапазоне магнитных полей до 16Т
