Автоматизированные системы для векторных измерений транспорта на переменном и на постоянном токе

Предназначены для испытаний сверхпроводящих устройств диаметром до 0.9м и высотой до 1.2м, сверхпроводящих материалов в полях до 8Т, при токах до 1кА и ВТСП материалов и устройств с ВТСП элементами на переменном токе до 0.5кА

Предназначена для измерений критических параметров ВТСП и СП проводников.

Позволяет проводить измерения в диапазоне температур 0.02-300 К и магнитных полей до 13 Т

Системы являются экономичными (по потреблению 4Не) и служат для экспресс-измерений в небольших магнитных полях

Предназначена для измерения магнитных свойств полупроводниковых гетероструктур

 

Предназначена для рентгеноструктурного анализа материалов

Характеристики

  • Мощность трубки — 600Вт
  • Материал анода — Cu
  • Фиксированная щель (на выходной пучок) — 1,25°; 0.625°
  • Щель подавления фона (на приемном пучке) — 1.25°
  • Приемная щель — 0.3мм
  • Радиус гониометра — 150мм
  • Диапазон углов сканирования —  -3  +145°
  • Минимальный шаг —  0.01°
  • Разрешение, не хуже — 0.01°
  • Детектор — сцинтилляционный NaI
  • Монохроматор Kb никелевый фильтр

 

 

 

 

 

 

Предназначен для оптического контроля качества микрообъектов и пленок

Установка Helios NanoLab 660 находится на этапе ввода в эксплуатацию.

Страница 3 из 6