Сегодня 26.12.24
ПОЧТА
ЛИЧНЫЙ КАБИНЕТ
СМИ О НАС
ИНСТИТУТ
НАУЧНАЯ ДЕЯТЕЛЬНОСТЬ
ОБРАЗОВАНИЕ
ДЛЯ СОТРУДНИКОВ
Новости
Награды
История
Структура
Медиараздел
Конкурсная комиссия
Сотрудники
Документы
Персоналии
Контакты
Противодействие коррупции
СМИ о нас
События
Основные результаты
Международное сотрудничество
Конкурсы
Участие ФИАН в ФЦП и НП
Семинары
Конференции
Информация о расчете ПРНД
Ученый совет
Диссертационные советы
Наши издания
Оборудование
Лицензии
Аспирантура
Новости аспирантуры
Для соискателей
Докторантура
Защита диссертаций
Кафедры
Целевой набор по программе бакалавров в 2024г
О целевом обучении
Документы
Библиотека ФИАН
Доступ к журналам
Информация о расчете ПРНД
Инструкции
Профком
Заявки
Главная
-
Научная деятельность
-
Оборудование
-
Измерительное
-
Измерения параметров элементов наноэлектроники, одноэлектроники, наномеханики при сверхнизких температурах
Измерения параметров элементов наноэлектроники, одноэлектроники, наномеханики при сверхнизких температурах
Оборудование
Измерительное
Технологическое
Лазерные установки