Предназначен для измерения оптических спектров пропускания и отражения в ИК диапазоне, определения концентрации различных органических и неорганических веществ в твердой и жидкой фазах, продукции нефтехимического производства, органического синтеза, продуктах питания, фармацевтики и т.п. Фурье-спектрометр применяется в аналитических лабораториях промышленного производства, научно-исследовательских и учебных организаций.

Основой фурье-спектрометра является двухлучевой интерферометр, в котором при перемещении одного из интерферометрических зеркал происходит изменение разности хода между интерферирующими лучами. Для уменьшения влияния внешних воздействий интерферометр построен по схеме Майкельсона с зеркалами в виде светоотражателей. Регистрируемый световой поток на выходе интерферометра как функция разности хода (интерферограмма) представляет фурье-образ регистрируемого оптического спектра. Сам спектр (в шкале волновых чисел) получается после выполнения специальных математических расчетов (обратное преобразование Фурье) интерферограммы.

Движение зеркала в интерферометре осуществляется по линейному закону с помощью прецизионного механизма. Точное положение зеркала (разность хода в интерферометре) определяется с помощью референтного канала. Нулевое значение разности хода (основной максимум интеферограммы) определяется расчетным путем. Конструктивно фурье-спектрометр выполнен в виде настольного прибора с отдельно устанавливаемым компьютером.  Фурье-спектрометр представляет собой стационарный автоматизированный прибор с модульной вакуумной оптикой. Камера образца может быть отдельно откачана и продута воздухом.

Прибор оснащен широким набором дополнительных устройств и принадлежностей, включая приставку для измерения отражения/пропускания с углом падения 11°; алмазную приставку нарушенного полного внутреннего отражения (НПВО); приставку многократного НПВО (МНПВО); приставку измерения пропускания в параллельных пучках; интегрирующую сферу для измерения диффузного рассеяния; приставку для измерения абсолютных значений отражения и другие.

Фурье-спектрометр снабжен криостатом Optistat CFv с контактным охлаждением и протяжкой паров хладоагента фирмы Oxford Instruments http://www.oxford-instruments.com, который позволяет регулировать температуру исследуемого образца в диапазоне 3.8-300 К с точностью 0.1 К.

Вставка в криостат Optistat CFv и стандартный держатель образца

Управление процессом измерения осуществляется от внутреннего контроллера и РС совместимого компьютера с помощью программного комплекса OPUS . Программный комплекс OPUS – это всеобъемлющий пакет программ, предназначенных для наиболее полного использования всех возможностей фурье-спектрометра. Выбор источников, оптических фильтров, каналов образца и детекторов осуществляется из программного комплекса OPUS без нарушения вакуума в спектрометре. Программируемым образом осуществляется настройка прибора, оптимизация его параметров, управление его работой, осуществление фурье-преобразования интерферограммы, обработка выходной информации, в том числе построение градуировочных графиков по образцовым веществам, печать результатов и сохранение результатов анализа. Программный комплекс OPUS обеспечивает обмен (пересылку) измерительной информации в другие программы для подготовки документов с результатами измерений.

Наиболее подходят для измерений отражения образцы с плоской зеркальной поверхностью диаметром 5-10 мм. Для исключения интерференционных эффектов образцы для измерений пропускания должны иметь небольшую клиновидность или одну шероховатую поверхность.

Технические характеристики

Спектр ИК поглощения многопериодной структуры GaAs / AlGaAs , полученный с помощью приставки МНПВО. На вставке приведена геометрия эксперимента [Ю.А. Алещенко, В.В. Капаев, Ю.В. Копаев, Ю.Г. Садофьев, М.Л. Скориков. Многопериодная структура для фонтанного режима генерации униполярного лазера, Квантовая электроника, 40 (8) с. 685-690 (2010)]

Спектры отражения пленки сверхпроводящего пниктида Ba ( Fe _0.9 Co _0.1 )₂ As ₂ ( T_c =20 K ) толщиной 90 нм на подложке ( La , Sr )( Al , Ta ) O ₃ , измеренные в широком диапазоне частот при различных температурах.

Отражение R ( w ) при 5 К той же пленки, нормированное на значения в нормальном состоянии при 30 К. Четко проявляется пик при 40 см^-1 . Частота пика соответствует величине сверхпроводящей энергетической щели 2 D .