Новости науки

Смоделировано формирование дифракционных и фазовых изображений микроструктуры электрических искр в оптической системе регистрации с учетом её аппаратной функции. Уточнены искажения, вносимые в регистрируемые изображения из-за дефокусировки оптической системы и её конечного пространственного разрешения. Установлено, что микроструктура искр надежно разрешается только с помощью оптики с пространственным разрешением, близким к единицам микрон.

Подробнее: в формате онлайн и скачиваемого файла (*.pdf)

Дифракционная (a,c) и фазовая (b,d) картины микроструктуры электрической искры