Новости, история,
достижения, награды,
структура, медиа,
сотрудники

Семинары, конкурсы, издания,
публикации, оборудование,
совет молодых ученых,
конференции, наши издания

Аспирантура, кафедры,
докторантура,
защита диссертаций, научные руководители

Документы, инструкции, wi-fi, заявки,электронный доступ к журналам (Полный доступ к разделу после авторизации)

Главная - Институт

Результаты поиска для: Микроскопы сканирующие высокого разрешения

Пятница, 06 мая 2016 21:11

Сканирующий электронный микроскоп JSM-7001F (JEOL)

Модель JSM-7001F (JEOL ) представляет собой автоэмиссионный растровый электронный микроскоп.