Поиск по публикациям

сортировать по
Период:

С    по

Результат поиска:
Вы искали: отделение / лаборатория
- Лаборатория "Рентгеновские методы диагностики наноструктур"
период Все года
Найдено публикаций: 267.

Последнее обновление базы: 01.04.2022

  1. MINIMIZING PHOTOMEMORY EFFECTS IN X-RAY FLUX MEASUREMENT IN COMPUTERIZED-TOMOGRAPHY
    MEASUREMENT TECHNIQUES USSR
    TURYANSKII, AG; FEDOSEEVA, OP
    1986г. т. 29 номер 3 стр.. 226-228 тип: публикация в журнале

    DOI - 10.1007/BF00863858
    WoS id - WOS:A1986E971100018

  2. DETERMINATION OF CONVERSION NONLINEARITY FOR X-RAY-DETECTORS
    INSTRUMENTS AND EXPERIMENTAL TECHNIQUES
    TURYANSKII, AG; FEDOSEEVA, OP
    1985г. т. 28 номер 3 стр.. 567-569 тип: публикация в журнале

    Scopus id - 2-s2.0-84954041360
    WoS id - WOS:A1985AWZ7100017

  3. IMITATION MODEL OF PERIODIC CHEMICOPHARMACEUTICAL TECHNOLOGICAL PROCESS AND ITS APPLICATION FOR THE DESIGN OF COMPUTERIZED CONTROL-SYSTEM
    KHIMIKO-FARMATSEVTICHESKII ZHURNAL
    EROKHINA, TM; KUSKOV, EK; LIBERMAN, MD; TURYANSKY, AG
    1984г. т. 18 номер 2 стр.. 222-226 тип: публикация в журнале

    Scopus id - 2-s2.0-84954041360
    WoS id - WOS:A1984SG14200023

  4. CARBON CONCENTRATION-DEPENDENCE, ON THE SURFACE OF GAAS EPITAXIAL-FILMS, ON THE SUBSTRATE DISORIENTATION DEGREE IN RELATION TO A CRYSTALLOGRAPHIC PLANE
    FIZIKA TVERDOGO TELA
    LOIKO, NN; MAKSIMOVSKII, SN; NOLLE, EL; PENIN, NA; PETROV, AE; TURYANSKII, AG
    1982г. т. 24 номер 9 стр.. 2595-2598 тип: публикация в журнале

    Scopus id - 2-s2.0-84954041360
    WoS id - WOS:A1982PH54100010

  5. STRUCTURE AND OPTICAL-PROPERTIES OF SILICON IMPLANTED BY HIGH-DOSES OF 70 AND 310 KEV CARBON-IONS
    RADIATION EFFECTS AND DEFECTS IN SOLIDS
    AKIMCHENKO, IP; KISSELEVA, KV; KRASNOPEVTSEV, VV; TOURYANSKI, AG; VAVILOV, VS
    1980г. т. 48 номер 1-4 стр.. 7-12 (цит. wos) 22 тип: публикация в журнале

    DOI - 10.1080/00337578008209220
    WoS id - WOS:A1980JZ20700002

  6. ELECTRON-HOLE LIQUID IN DEFORMED GE AND SI AT INTERMEDIATE VALUES OF UNIAXIAL PRESSURE
    FIZIKA TVERDOGO TELA
    ANDRYUSHIN, EA; GELFOND, OA; SILIN, AP
    1980г. т. 22 номер 5 стр.. 1418-1423 (цит. wos) 1 тип: публикация в журнале

    Scopus id - 2-s2.0-84954041360
    WoS id - WOS:A1980JV98500027

  7. X-RAY-DIFFRACTOMETRIC PROCEDURE FOR INVESTIGATING THIN JUNCTION STRUCTURES
    INSTRUMENTS AND EXPERIMENTAL TECHNIQUES
    TURYANSKII, AG
    1976г. т. 19 номер 1 стр.. 239-241 тип: публикация в журнале

    Scopus id - 2-s2.0-84954041360
    WoS id - WOS:A1976CK79300033

Параметры поиска

Область поиска

Название Автор Журнал
DOI Researcher ID
Отделение / лаборатория
Лаборатория "Рентгеновские методы диагностики наноструктур"
(Выбрать)

Период


С по
Тип



Сортировать по